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供應世界一流品牌高精度設備

系統集成

廣泛應用于半導體晶圓領域

技術服務

擁有12年的系統整合專業技術

定制服務

提供客戶所需定制服務

深圳市易捷測試技術有限公司

深圳市易捷測試技術有限公司,簡稱易捷測試(GBIT)。 是中國半導體測試和射頻微波測量領域系統解決方案供應商. 公司成立于2011年,總部設在深圳 ,并在北京、南京、成都、西安、重慶、香港等地都設有全資業務辦事處。客戶主要涵蓋:國家頗具影響力的企業、研究所、大學教學研究機構和大型工廠等。

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解決方案

Solutions

光電測試系統 半導體在片測試 射頻與微波器件測試 材料電特性測試 半導體封裝檢測系統
光電探測分析測試系統... 光電測試系統 硅光子晶圓測試系統... G047664光電轉換指示及規格...
光電探測分析測試系統光電探測器參數自動測試系統為我司專門為PD類光電探測器芯片開發的一套完整的集IV、CV、光響應度等測試應用的交鑰匙在片系統,主要用于解決客戶PD類芯片的研發和自動化篩選測試,系統經驗源于易捷測試在光電模塊、光電器件To封裝以及探針臺領域多年的測試經驗。
光電測試系統伴隨400G、100G通信的到來,通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件從特征性能都需要極大提高。從芯片到封裝好的器件特征必須通過相應的參數來衡量相應的O/E和E/O參數。如3dB帶寬、S參數、光波長響應度,接收靈敏度等。該系統就是集成矢網、光調制器、光校準件、探針臺,可對O/E,E/O芯片、封裝好的器件特征參數進行測試。
硅光子晶圓測試系統
G047664光電轉換指示及規格書
高頻自動探針臺晶圓測試系... X射線輻照及抗輻射測試系統... 晶圓級射頻在片測試系統... 多功能MMIC自動測試系統... 用網絡分析儀建CAL KIT...
高頻自動探針臺晶圓測試系統
X射線輻照及抗輻射測試系統
晶圓級射頻在片測試系統
多功能MMIC自動測試系統基于 Keysight PNA-X 、擴頻模塊、半自動探針臺、高頻探針、自主開發的高精度電動探針座及配套控制軟件的一套毫米波多功能MMIC自動測試系統解決方案
用網絡分析儀建CAL KIT微波集成電路工作在微波和毫米波波段,由微波無源有源元件、傳輸線和互連線集成在一個基片上。隨著微波集成電路技術和制作工藝的發展,集成電路的集成度更高,基片面積更小。作為通用微波測量儀器的矢量網絡分析儀,利用其對微波集成電路進行在片測試,即直接在晶圓上進行微波集成電路S參數測試,難度也更高
矢量非線性網絡綜合測試系... 毫米波噪聲參數測試系統... 2018噪聲建模和噪聲測量研...
矢量非線性網絡綜合測試系統
毫米波噪聲參數測試系統
2018噪聲建模和噪聲測量研討會
材料電磁參數性能測試系統... PCB板材料測試解決方案...
材料電磁參數性能測試系統用于 TR組件的集成測試,可以實現復雜的 TR 組件參數一次連接自動測試;系統具有頻率高、頻帶寬、精度好、速度快等特點,適用于軍工、科研、生產線等機構的 TR 組件自動化測試。
PCB板材料測試解決方案傳統上,商業用途的PCB材料的介電常數測試在相對低的頻率上進行測試,例如1MHz和1GHz。目前為了適應高數據轉換速率的趨勢(對于移動手持設備,電腦,桌面設備),PCB材料的測試頻率正在增加。例如,無線通訊設備的PCB材料在1GHz-10GHz的頻率范圍內測試。
非破壞性檢測-超聲檢測IGBT...
非破壞性檢測-超聲檢測IGBT模塊很長一段時間,模塊的制造商一直沒有找到好的非破壞性方法來檢測可能導致這些故障的結構缺陷的方法。為了解決這個問題,使IGBT模塊容易地檢查內部結構缺陷,Sonoscan公司最近開發并開始發布一款C-SAM?聲學顯微成像設備。

產品中心

Products

深圳市易捷測試在中國半導體測試和微波領域有專業的突出表現,公司已經與多家世界著名的半導體器件和精密測試領域的品牌廠商簽訂了合作代理協議。

儀器儀表

探針臺系統

微波射頻測試設備

微波附件

微波仿真建模

測試耗材

定制探針臺及夾具

集成測試軟件

材料測試設備

半導體封裝工藝檢測

致力于成為中國半導體測試和射頻微波測量領域最好的系統解決方案供應商

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易捷與您共聚2019世界半導體大會

首屆世界半導體大會將于2019年5月17日-19日在南京舉行
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世界上最遙遠的距離就是:我有解決方案,你有好眼光,而當中沒有EDICON...
光器件及芯片是光通信企業最核心的技術競爭力,尤其以光通信芯片為最。但在芯片層面仍...
技術資料
深圳市易捷測試擁有一批在電子封裝測試及半導體行業有豐富經驗的專業技術工程師團隊,我們的團隊在不斷提升整合能力的同時,不僅能為客戶提供高質量和全方位的服務,也能根據客戶的實際生產情況制訂“量體裁衣”式的系統應用解決方案。
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